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  2. 服務(wù)熱線(xiàn):
    18818017858
    產(chǎn)品展示

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    高低溫交變循環(huán)試驗箱

    • 簡(jiǎn)要描述:高低溫交變循環(huán)試驗箱用于模擬電子儀器儀表、新型材料、電工、車(chē)輛、金屬、電子產(chǎn)品、航空航天材料等在運輸、儲存、使用過(guò)程中可能會(huì )遇到的嚴酷高溫、低溫或濕熱環(huán)境;
    • 品牌:其他品牌
    • 廠(chǎng)商性質(zhì):生產(chǎn)廠(chǎng)家
    • 訪(fǎng)問(wèn)次數:1021
    • 更新時(shí)間:2023-11-09
    • 產(chǎn)品簡(jiǎn)介
    品牌其他品牌價(jià)格區間2萬(wàn)-5萬(wàn)
    產(chǎn)地類(lèi)別國產(chǎn)

    一、高低溫交變循環(huán)試驗箱技術(shù)參數:

    型號

    BS-80D

    BS-150D

    BS-225D

    BS-408D

    BS-608D

    BS-800D

    BS-010D

    內箱尺寸W*H*D(mm)

    400*500*500

    500*600*500

    500*750*600

    600*850*800

    800*950*800

    1000*1000*800

    1000*1000*1000

    外箱尺寸W*H*D(mm)

    600*1650*1100

    700*1700*1200

    700*1850*1300

    800*1950*1500

    1000*2050*1500

    1200*2100*1500

    1000*1000*1000

    溫度范圍

    -70-+100℃(150℃)

    (A10℃  B0℃  C-20℃  D-40℃  E-50℃  F-60℃  G-70℃)

    溫度解析度/均勻度

    0.01℃   ±1℃

    溫度控制精度/波動(dòng)度

    ±1℃    ±0.5℃

    升溫/降溫時(shí)間

    約3℃/min   約1℃/min  (其他條件可定制)

    電源

    AC220V+±10%V 50HZ/60HZ      AC380V+±10%V 50HZ/60HZ

     

    二、高低溫交變循環(huán)試驗箱故障排除方法:

    1.在高溫試驗中,如溫度變化達不到試驗溫度值時(shí),可以檢查電器系統,逐一排除故障。如溫度升得很慢,就要查看風(fēng)循環(huán)系統,看一下風(fēng)循環(huán)的調節擋板是否開(kāi)啟正常,反之,就檢查風(fēng)循環(huán)的電機運轉是否正常。如溫度過(guò)沖厲害那么就需要整定PID 的設置參數。如果溫度直接上升,過(guò)溫保護,那么,控制器出故障,須更換控制儀表。

    2.低溫達不到試驗的指標,那你就要觀(guān)察溫度的變化,是溫度降的很慢,還是溫度到一定值后溫度有回升的趨勢,前者就要檢查一下,做低溫試驗前是否將工作室烘干,使工作室保持干燥后再將試驗樣品放入工作室內再做試驗,工作室內的試驗樣品是否放置的過(guò)多,使工作室內的風(fēng)不能充分循環(huán),在排除上述原因后,就要考慮是否是制冷系統中的故障了,這樣就要請廠(chǎng)家的專(zhuān)業(yè)人員進(jìn)行檢修。后者的現象是設備的使用環(huán)境不好所致,設備放置的環(huán)境溫度,放置的位置(箱體后與墻的距離)要滿(mǎn)足要求(在設備操作使用說(shuō)明中都有規定)。

     

    三、高低溫試驗箱執行標準:

    1. GB2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法 試驗A:低溫

    2. GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫

    3. GJB150.3A-2009            高溫試驗方法

    4. GJB150.4A-2009             低溫試驗方法

    5. GB2423.22-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分 試驗方法 試驗Nb:規定溫度變化速率的溫度變化

    6. GBT 2424.5-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 溫度試驗箱性能確認

    7.GB/T 10589-2008 低溫試驗箱技術(shù)條件

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